什么是長(zhǎng)期壽命試驗(yàn)
1.長(zhǎng)期儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)
我們把電子產(chǎn)品在規(guī)定的環(huán)境條件下非工作狀態(tài)的存放試驗(yàn)稱為儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)。儲(chǔ)存 壽命試驗(yàn)周期在1000小時(shí)以上者稱為長(zhǎng)期儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)。如半導(dǎo)體三極管總技術(shù)條件中規(guī) 定，每種型號(hào)的半導(dǎo)體三極管，每年應(yīng)取一定數(shù)量的管子,存放在一 10X：?40X：,相對(duì)濕度 不大于80%的干燥通風(fēng)且無(wú)腐蝕性氣體的倉(cāng)庫(kù)內(nèi)。*年內(nèi)每季度,以后每半年全面測(cè)量 一次電參數(shù)，并觀察表面。儲(chǔ)存3?5年后整理書(shū)面資料，供提髙產(chǎn)品質(zhì)量時(shí)參考。
長(zhǎng)期儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)的目的是要了解產(chǎn)品在特定環(huán)境下儲(chǔ)存的可靠性。元器件裝配成 整機(jī)前，可能要儲(chǔ)存數(shù)年或更長(zhǎng)的時(shí)間。在這么長(zhǎng)的時(shí)間內(nèi)，這些元器件能不能保持其原 有特性指標(biāo)?這些元器件參數(shù)的變化規(guī)律如何?失效機(jī)理是什么,等等，這些都需要通過(guò)儲(chǔ) 存壽命試驗(yàn)來(lái)回答。
長(zhǎng)期儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)方法較簡(jiǎn)單，只需要將樣品存放在一定的環(huán)境條件下,定期地進(jìn)行 測(cè)試分析就行。但儲(chǔ)存試驗(yàn)由于樣品處于非工作狀態(tài),失效率比較低，通常要抽出比較多 的樣品進(jìn)行長(zhǎng)期的試驗(yàn)，周期一般長(zhǎng)達(dá)35年。
長(zhǎng)期儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)所積累的數(shù)據(jù)對(duì)于預(yù)測(cè)元器件和整機(jī)的儲(chǔ)存可靠性很有價(jià)值。通過(guò)元器件儲(chǔ)存試驗(yàn)獲得的數(shù)據(jù)可幫 助預(yù)測(cè)試品儲(chǔ)存壽命。因此,元器件生產(chǎn)單位應(yīng)該有計(jì)劃有目的地對(duì)所生產(chǎn)的元器件 進(jìn)行長(zhǎng)期儲(chǔ)存試驗(yàn)，這不但有利于評(píng)價(jià)和改進(jìn)元器件質(zhì)量，也有助于整機(jī)單位合理選用元 器件及做好整機(jī)的可靠性預(yù)測(cè)工作。